会议论文《印制板通用测试机通断测试点优化技术》发表于第四届全国青年印制电路学术年会，探讨了如何通过优化测试点布局提高印制板测试效率和准确性。文章提出了一套适用于通用测试机的测试点优化方法，有效减少了测试时间，提升了检测可靠性，对印制电路行业具有重要指导意义。
文档为pdf格式，0.44MB，总共6页。
举报
