一种1200V平面快恢复二极管终端结构的设计 - 2010年全国半导体器件技术研讨会.pdf

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2026-1-11 00:54 | 查看全部 阅读模式

本文介绍了1200V平面快恢复二极管终端结构的设计方法。通过优化终端区域的几何形状和掺杂分布,有效降低了电场集中,提高了器件的击穿电压和可靠性。该设计在保持快速恢复特性的基础上,显著改善了二极管的静态和动态性能,适用于高压高频电力电子应用。

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一种1200V平面快恢复二极管终端结构的设计 - 2010年全国半导体器件技术研讨会
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