会议论文《“腾越-Ⅱ”微处理器测试系统的设计与实现》发表于第十四届计算机工程与工艺会议(NCCET10)，介绍了针对国产微处理器的测试系统设计。该系统实现了对微处理器功能、性能及兼容性的全面测试，提升了芯片验证效率和可靠性。研究结合了硬件与软件技术，为国产处理器的开发提供了重要支持。
文档为pdf格式，0.9MB，总共6页。
举报
