会议论文《X射线荧光光谱直接压片法测定氧化铝中杂质Ga2O3含量》介绍了利用X射线荧光光谱技术，通过直接压片法快速准确测定氧化铝中镓氧化物含量的方法。该方法简化了样品前处理流程，提高了分析效率与准确性，适用于工业生产中的质量控制与检测需求。
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