会议论文《X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、SiO2、Fe2O3、P、TCa》介绍了利用X射线荧光光谱技术快速、准确测定萤石样品中主要成分的方法。该研究通过实验验证了方法的可行性与准确性，为萤石分析提供了高效的技术支持，适用于冶金及材料分析领域。
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