会议论文《X射线荧光光谱法测定镁质耐火材料主次成分》发表于第十五届冶金及材料分析测试学术报告会(CCATM2010)。该文介绍了利用X射线荧光光谱技术对镁质耐火材料中的主要和次要成分进行快速、准确测定的方法。通过实验验证，该方法具有操作简便、分析速度快、精度高等优点，为镁质耐火材料的成分分析提供了有效手段。
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