会议论文《SRAM型FPGA器件总剂量辐射损伤效应研究》发表于第十五届全国核电子学与核探测技术学术年会。该文研究了SRAM型FPGA在总剂量辐射环境下的性能变化，分析了辐射对器件逻辑功能和存储单元的影响，提出了可能的抗辐射设计策略，为高辐射环境下FPGA的应用提供了理论依据和技术支持。
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