会议论文《PLZT薄膜介电频谱特征研究》发表于第二届全国纳米材料与结构、检测与表征研讨会，主要探讨了PLZT薄膜在不同频率下的介电性能。研究通过实验分析了薄膜的介电常数和损耗随频率的变化规律，揭示了其在高频应用中的潜在优势。该成果为PLZT材料在电子器件中的优化设计提供了理论依据和技术支持。
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