会议论文《NK多功能薄膜分析仪在OLED失效分析中的应用》发表于2010年中国平板显示学术会议，探讨了NK多功能薄膜分析仪在OLED器件失效分析中的实际应用。文章介绍了该仪器在检测薄膜厚度、光学性能及电学特性方面的优势，为OLED显示技术的可靠性研究提供了有效手段，对提升OLED产品质量和寿命具有重要意义。
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