会议论文《采用重配置技术压缩FPGA内BRAM的测试时间》针对FPGA中BRAM测试时间过长的问题，提出了一种基于重配置技术的优化方案。该方法通过动态调整测试流程，减少冗余操作，从而有效降低测试时间。研究结果表明，该技术在保证测试覆盖率的同时，显著提升了测试效率，对提高FPGA测试性能具有重要意义。
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