电子束辐照下316L奥氏体钢氧化膜的能量损失谱研究 - 2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会.pdf

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2026-1-10 23:25 | 查看全部 阅读模式

该会议论文研究了316L奥氏体钢在电子束辐照下氧化膜的能量损失谱。通过电子显微学方法,分析了氧化膜在辐照过程中的结构变化和化学成分演变。研究结果有助于理解材料在高能电子束作用下的稳定性与损伤机制,对核反应堆材料的辐照性能评估具有重要意义。

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电子束辐照下316L奥氏体钢氧化膜的能量损失谱研究 - 2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会
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