环境扫描电镜及背散射电子成像技术在香蒲根表铁膜研究中的应用 - 2010年全国电子显微学会议暨第八届海峡两岸电子显微学研讨会.pdf

5 0

2026-1-10 23:23 | 查看全部阅读模式

该会议论文介绍了环境扫描电镜及背散射电子成像技术在香蒲根表铁膜研究中的应用。通过这些先进的显微技术，研究人员能够更清晰地观察和分析香蒲根表面铁膜的微观结构与元素分布。该研究为理解植物对重金属的吸附机制提供了重要依据，具有重要的环境科学意义。

文档为pdf格式，0.07MB，总共1页。