会议论文《一种基于响应中无关位填充的测试数据压缩方法》发表于第六届中国测试学术会议。该文提出一种新的测试数据压缩方法，通过分析响应中的无关位并进行填充，有效减少测试数据的存储与传输需求。该方法在保持测试覆盖率的同时，提高了测试效率，对提高集成电路测试性能具有重要意义。
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