会议论文《一种基于扫描子链轮流扫描捕获的低费用BIST方法》提出了一种低成本的内置自测试（BIST）方案。该方法通过扫描子链轮流扫描捕获，有效降低了测试成本和硬件开销。研究针对集成电路测试中的效率问题，优化了测试结构，提高了测试覆盖率。该成果在第六届中国测试学术会议上发表，为集成电路测试技术提供了新的思路。
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