会议论文《SoC中混合信号测试与可测性设计研究》发表于第六届中国测试学术会议，探讨了系统级芯片（SoC）中混合信号电路的测试方法与可测性设计技术。文章针对SoC中模拟与数字信号混合的特点，提出有效的测试策略和设计优化方案，以提高测试覆盖率和诊断能力，降低测试成本。该研究对提升SoC的可靠性与测试效率具有重要意义。
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