利用少子寿命仪对多晶硅缺陷的快速量化表征 - 第九届中国太阳级硅及光伏发电研讨会.pdf

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2026-1-10 11:51 | 查看全部 阅读模式

会议论文《利用少子寿命仪对多晶硅缺陷的快速量化表征》介绍了如何通过少子寿命仪对多晶硅材料中的缺陷进行快速、准确的量化分析。该方法提高了多晶硅质量评估的效率,为光伏产业提供了重要的技术支撑。文章在第九届中国太阳级硅及光伏发电研讨会上发表,旨在推动多晶硅材料检测技术的发展。

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利用少子寿命仪对多晶硅缺陷的快速量化表征 - 第九届中国太阳级硅及光伏发电研讨会
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