本文介绍了新型4H-SiC沟槽型MOS势垒肖特基二极管的设计与模拟研究。通过优化沟槽结构和界面特性,提高了器件的性能与可靠性。研究采用仿真方法分析了电场分布、导通电阻及反向漏电流等关键参数,为高性能功率器件的发展提供了理论依据和技术支持。
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