会议论文《SET2DIL损耗测试研究》发表于2014中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术信息论坛。该研究聚焦于SET2DIL结构的信号传输损耗特性，通过实验分析其在高频环境下的性能表现。论文对测试方法进行了详细阐述，旨在为高速电路设计提供理论支持与实践参考，具有重要的工程应用价值。
文档为pdf格式，0.66MB，总共5页。
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