会议论文《辐照总剂量对SOINMOS器件阈值电压影响的定量研究》发表于第一届全国辐射物理学术交流会(CRPS`2014)。该文系统研究了不同辐照总剂量下SOINMOS器件阈值电压的变化规律，通过实验与分析，揭示了辐射效应对其电学性能的影响机制，为高辐射环境下器件可靠性评估提供了重要参考。
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