会议论文《良率导向的近阈值SRAM系统设计》探讨了在近阈值电压下提高SRAM系统良率的设计方法。该研究针对低电压下SRAM稳定性不足的问题，提出优化电路结构与布局策略，以提升芯片制造良率。论文结合工艺波动因素，通过仿真与实验验证设计有效性，为低功耗高性能SRAM设计提供了新思路。
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