会议论文《粉末压片X射线荧光光谱法测定金属硅中Fe、Al、Ca杂质元素含量》介绍了采用粉末压片技术结合X射线荧光光谱法对金属硅中的铁、铝、钙等杂质元素进行快速、准确的定量分析。该方法具有操作简便、分析速度快、检测限低等优点，适用于工业生产中的质量控制与原材料分析，为金属硅行业提供了可靠的检测手段。
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