MFIS结构铁电场效应晶体管伽马总剂量效应研究 - 2014`全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会暨第七届中国微纳电子技术交流与学术研讨会.pdf

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2026-1-10 01:30 | 查看全部阅读模式

本文研究了MFIS结构铁电场效应晶体管在伽马总剂量辐射下的效应。通过实验分析了辐射对器件性能的影响，揭示了铁电材料在辐射环境下的稳定性及退化机制。研究结果对提高半导体器件的抗辐射能力具有重要意义，为高可靠性电子系统的设计提供了理论依据。

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