会议论文《EE80C196KC20单片机γ辐射总剂量效应》探讨了γ射线对EE80C196KC20单片机的总剂量效应。研究通过实验分析了不同辐射剂量下单片机性能的变化，评估了其在高辐射环境中的可靠性。该成果对于核设施、航天等领域的电子设备抗辐射设计具有重要参考价值。
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