会议论文《EEPROM瞬时剂量率效应实验研究》探讨了EEPROM器件在高剂量率辐射环境下的性能变化。该研究通过实验方法分析了不同剂量率对EEPROM存储数据的影响，为核辐射环境下电子器件的可靠性评估提供了重要数据支持。论文发表于北京核学会第十届核应用技术学术交流会，旨在推动核技术在实际应用中的安全与稳定。
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