该论文在2012年全国军事微波会议、电磁兼容学术会议及电磁技术学术年会上发表,主要对比研究进口与国产集成电路在电磁脉冲环境下的损伤情况。通过实验分析,评估了不同品牌和型号的集成电路在遭受电磁脉冲冲击时的抗干扰能力和损坏程度,为提升国产集成电路的电磁防护性能提供了数据支持。
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