一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构 - 第七届中国测试学术会议.pdf

论文《一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构》提出了一种改进的扫描树结构，通过FDR编码技术实现测试数据的高效压缩。该方法在保证测试覆盖率的同时，显著减少了测试数据量和测试时间，提高了测试效率。适用于数字集成电路的测试领域，对降低测试成本具有重要意义。

文档为pdf格式，1.15MB，总共4页。

2025-12-14 22:08 上传 一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构 - 第七届中国测试学术会议.pdf

文件大小:

1.15 MB

下载次数:

60

一种基于FDR编码测试压缩高效的扫描树结构 - 第七届中国测试学术会议.pdf

高速下载