论文《硅压阻式压力传感器失效分析》发表于第十二届全国敏感元件与传感器学术会议，主要探讨了硅压阻式压力传感器在实际应用中出现的失效问题。文章分析了传感器失效的主要原因，包括材料疲劳、封装缺陷及环境因素影响等，并提出了相应的改进措施。研究对提高传感器可靠性与使用寿命具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持。
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