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论文《基于SOC的级联式存储测试系统构架技术研究》探讨了在系统级芯片（SOC）基础上构建级联式存储测试系统的架构技术。文章提出了一种高效、可扩展的测试系统设计方案，旨在提升存储器测试的精度和效率。通过级联结构实现多模块协同测试，优化了测试流程与资源分配，为复杂SOC系统的存储模块提供了可靠的测试解决方案。 文档为pdf格式，0.49MB，总共4页。
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- 基于SOC的级联式存储测试系统构架技术研究 - 第六届全国信号和智能信息处理与应用学术会议.pdf ...
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