本文介绍了在立方MgO衬底上外延生长高质量六方AlN薄膜的研究。通过优化生长条件,成功获得了具有优异晶体质量的AlN薄膜。研究结果表明,该方法能够有效减少缺陷密度,提高薄膜的光学和电学性能,为高性能光电器件和微波器件的制备提供了新的途径。
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