该论文研究了在Si衬底上通过MOCVD外延生长GaN的导电特性。通过分析不同生长条件对GaN薄膜电学性能的影响,探讨了载流子浓度、迁移率等关键参数的变化规律。结果表明,优化生长工艺可有效提高GaN的导电性能,为高性能氮化镓器件的制备提供了理论依据和技术支持。
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