论文《高能电子辐照对束测量系统的影响》探讨了高能电子辐照对束测量系统性能的影响。文章通过实验分析，研究了不同剂量的电子辐照对测量设备的干扰及可能造成的损伤。结果表明，高能电子辐照可能导致测量系统灵敏度下降、信号失真等问题。该研究为提高束测量系统的抗辐照能力提供了理论依据和技术参考，对脉冲功率技术的发展具有重要意义。
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