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论文《静电放电对集成电路的影响及防护》探讨了静电放电(ESD)对集成电路的潜在危害及其防护措施。文章分析了ESD的产生机制、对器件性能的影响,并介绍了常用的防护技术,如静电屏蔽、电路设计优化和保护器件的应用。该研究为提高集成电路的可靠性和稳定性提供了理论依据和技术参考,对于半导体器件产业发展具有重要意义。 文档为pdf格式,0.08MB,总共2页。
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- 静电放电对集成电路的影响及防护 - 2011’全国半导体器件产业发展、创新产品和新技术研讨会.pdf ...
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