论文《集成电路方波注入损伤效应试验研究》发表于第二届电磁环境效应与防护技术学术研讨会，主要探讨了方波信号对集成电路的损伤效应。通过实验分析，研究揭示了不同频率和幅值的方波对芯片性能的影响机制，为提高电子设备的抗干扰能力和可靠性提供了理论依据和技术支持。
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