本文针对磁致冷材料钆硅锗系合金中锗元素的含量分析,提出一种基于电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)的检测方法。通过优化实验条件,提高了分析的准确性和精密度,为钆硅锗系材料的性能研究提供了可靠的数据支持,具有重要的应用价值。
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