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一种能有效降低Memory BIST功耗的方法 - 2011年第17届全国信息存储技术大会(IST 2011).pdf

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论文《一种能有效降低Memory BIST功耗的方法》提出了一种优化Memory BIST测试过程的策略，以减少其功耗。该方法通过改进测试模式生成和优化测试序列，降低了电路在测试过程中的动态功耗。研究结果表明，该方法在保持测试覆盖率的同时，显著减少了BIST模块的能耗，对提高存储器测试效率和降低系统功耗具有重要意义。

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一种能有效降低Memory BIST功耗的方法 - 2011年第17届全国信息存储技术大会(IST 2011)

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