本文针对高压双极工艺中的介质隔离问题,提出一种单晶深槽介质隔离技术。通过优化深槽刻蚀和填充工艺,提高了器件的隔离性能与可靠性。该技术有效解决了传统隔离方法在高压环境下存在的漏电流大、击穿电压低等问题,为高性能双极型晶体管的设计与制造提供了新思路。
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