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[电子元器件与信息技术] 半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试人体模型（HBM） GBT 4937.26-2023

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半导体器件机械和气候试验方法第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试人体模型（HBM） GBT 4937.26-2023

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半导体, 放电, GBT, HBM, 模型

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