文档名：基于某型电子设备的装备测试性设计研究
主要分析研究了电子装备全寿命测试性工作任务和设计流程,以某型电子设备为例,详细介绍了设备级和电路板级测试接口、引脚定义设计,以及承载测试协议设计实现.
作者：古兆兵王庆民
作者单位：军事科学院系统工程研究院,北京100141
母体文献：2018年计量测试技术交流会论文集
会议名称：2018年计量测试技术交流会
会议时间：2018年5月1日
会议地点：天津
主办单位：航空工业第304研究所
语种：chi
分类号：
关键词：电子装备 全寿命测试 接口设计 引脚定义 协议设计
在线出版日期：2021年11月12日
基金项目：
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