可见短波红外碲镉汞焦平面器件响应光谱测量及理论分析

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碲镉汞(Hg1-xCdxTe)红外焦平面器件可通过去衬底技术将响应波段从红外拓展到可见光,实现可见到短波红外的宽谱探测,对高光谱成像系统的小型化和微型化具有重要意义.本文重点研究了碲镉汞焦平面器件在可见短波红外的响应光谱,搭建了可见短波红外光栅光谱测试系统,并结合傅立叶红外光谱测试,测量了碲镉汞焦平面器件在0.5-3.1μm的响应光谱,器件截止波长约为2.79μm.并采用一维漂移扩散理论模型对响应光谱进行了分析,吸收层厚度、界面产生复合速率等都会对器件的响应光谱产生影响.
作者：樊华 王溪 魏彦锋 廖清君 胡晓宁
作者单位：中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海200083;中国科学院大学,北京100049中国科学院上海技术物理研究所红外成像材料与器件重点实验室,上海200083
母体文献：2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛论文集
会议名称：2017年光学技术研讨会暨交叉学科论坛  
会议时间：2017年9月20日
会议地点：昆明
主办单位：上海市红外与遥感学会,云南省光学学会
语种：chi
分类号：TN2TH7
关键词：红外碲镉汞焦平面器件  可见短波  宽谱探测  响应光谱
在线出版日期：2020年6月28日
基金项目：
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2024-12-1 20:28 上传 可见短波红外碲镉汞焦平面器件响应光谱测量及理论分析.pdf

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