文档摘要：电子元器件的失效分析是一个复杂而重要的任务.通过综合运用各种分析方法,我们可以更全面地了解元器件的失效原因,为后续的改进和优化提供有力的支持.同时,随着技术的不断进步,我们有望在未来开发出更加先进和高效的失效分析方法,为电子行业的发展做出更大的贡献.本文基于工作实践,通过对电子元器件失效的剖析,给出了一种电子元器件失效分析的方法和流程,供相关技术人员参考.
Abstract：Failureanalysisofelectroniccomponentsisacomplexandimportanttask.Throughthecomprehensiveuseofvariousanalysismethods,wecanunderstandthecausesofcomponentfailuremorecomprehensively,andprovidestrongsupportforsubsequentimprovementandoptimization.Atthesametime,withthecontinuousadvancementoftechnology,weareexpectedtodevelopmoreadvancedandefficientfailureanalysismethodsinthefuture,andmakegreatercontributionstothedevelopmentoftheelectronicsindustry.Basedontheworkpractice,thispapergivesamethodandprocessforthefailureanalysisofelectroniccomponentsthroughtheanalysisofelectroniccomponentfailure,whichisforthereferenceofrelevanttechnicians.
作者：田磊Author：
作者单位：珠海零边界集成电路有限公司珠海519070;珠海格力电器股份有限公司珠海519070
刊名：日用电器
Journal：ElectricalAppliances
年，卷(期)：2024, (5)
分类号：
关键词：失效分析 芯片失效 自动测试设备
Keywords：failureanalysis chipfailure automatictestequipment
机标分类号：F426.63J632.14F272.92
在线出版日期：2024年7月1日
基金项目：关于电子元器件失效分析方法的讨论[
期刊论文] 日用电器--2024, (5)田磊电子元器件的失效分析是一个复杂而重要的任务.通过综合运用各种分析方法,我们可以更全面地了解元器件的失效原因,为后续的改进和优化提供有力的支持.同时,随着技术的不断进步,我们有望在未来开发出更加先进和高效的失效...参考文献和引证文献
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