LED常见失效模式及机理研究 - 中国电子学会第十四届青年学术年会.pdf

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2026-1-12 07:44 | 查看全部 阅读模式

会议论文《LED常见失效模式及机理研究》探讨了LED在使用过程中常见的失效现象及其背后的物理和化学机理。文章分析了热应力、电迁移、材料老化等因素对LED性能的影响,提出了相应的预防和改进措施。该研究为提高LED产品的可靠性与寿命提供了理论依据和技术支持,具有重要的实际应用价值。

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LED常见失效模式及机理研究 - 中国电子学会第十四届青年学术年会
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