T_CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序

标准编号：T/CIE116—2021
中文标题：电子元器件故障树分析方法与程序
英文标题：
国际标准分类号：31.080.01半导体器分立件综合
中国标准分类号：
国民经济分类：C397电子器件制造
发布日期：2021年11月22日
实施日期：2022年02月01日
起草人：何小琦，陈媛，恩云飞，来萍，宋芳芳，王蕴辉，支越，路国光，任艳
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
范围：
主要技术内容：本文件给出的基于失效物理的故障树构建方法及规范要求，解决了电子元器件故障树建树过程中故障事件演绎不充分、上下事件因果逻辑关系易混乱的问题，可以建立以故障树为载体且失效信息因果逻辑关系清晰的电子元器件故障信息库。本文件方法适用于产品尺寸小、内部结构性能难以直接测量的电子元器件产品。

关键词：中国电子学会,T/CIE,电子器件制造,电子元器件,故障,程序

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2024-9-29 15:06 上传 T_CIE 116-2021 电子元器件故障树分析方法与程序.pdf

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