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以田口实验设计方法优化AOI编程参数 - 2012中国高端SMT学术会议.pdf

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2025-12-14 22:08 | 查看全部阅读模式

论文《以田口实验设计方法优化AOI编程参数》发表于2012年中国高端SMT学术会议，旨在通过田口实验设计方法提高自动光学检测（AOI）系统的编程效率与检测精度。文章分析了多个关键参数对检测效果的影响，并利用田口方法进行实验设计与优化，最终得出最佳参数组合，为SMT生产线的自动化检测提供了理论支持和实践指导。

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