会议论文《面向最大串扰噪声的测试生成方法》发表于第五届中国测试学术会议，旨在研究如何有效生成测试用例以应对电路中的最大串扰噪声问题。该文提出了一种新的测试生成策略，通过分析信号间的耦合效应，优化测试模式，从而提高测试效率和准确性。研究成果对提升集成电路测试质量具有重要意义。
文档为pdf格式，0.42MB，总共6页。
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