集成CMOS管1_f噪声测试系统 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会.pdf

会议论文《集成CMOS管1_f噪声测试系统》介绍了针对CMOS器件的1/f噪声进行测试的系统设计与实现。该系统适用于第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会，旨在提高对低频噪声特性的研究能力，为核电子学领域的器件性能评估提供可靠数据支持。

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集成CMOS管1_f噪声测试系统 - 第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会.pdf

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