会议论文《集成电路自动测试设备系统自检的设计》发表于第一届中国微电子计量与测试技术研讨会，探讨了集成电路自动测试设备（ATE）在运行前进行系统自检的必要性与实现方法。文章提出了一套有效的自检机制，以确保测试结果的准确性与可靠性，提升测试效率。该研究对提高集成电路测试质量具有重要意义，为相关领域的技术发展提供了理论支持与实践参考。
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