会议论文《降低SOC芯片测试成本的有效方法》发表于第五届中国测试学术会议，探讨了在集成电路测试过程中如何有效降低测试成本。文章提出了多种优化测试策略和方法，旨在提高测试效率并减少资源消耗，对提升SOC芯片的测试经济性具有重要参考价值。
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