会议论文《针对片上网络(NoC)芯片的单向虚拟测试总线》探讨了在片上网络芯片中实现高效测试的方法。该文提出一种单向虚拟测试总线结构，旨在提高测试效率和降低功耗。通过优化测试路径，提升了测试覆盖率并减少了测试时间。该研究为NoC芯片的测试提供了新的思路，具有重要的理论和应用价值。
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