会议论文《薄层方块电阻宽电极测试方法》发表于2008年中国平板显示学术会议，主要探讨了薄层方块电阻的测试技术。该文提出了一种适用于宽电极结构的测试方法，有效提高了测量精度与可靠性。研究对平板显示领域中的材料特性分析具有重要意义，为后续相关技术的发展提供了理论支持与实践指导。
文档为pdf格式，0.07MB，总共2页。
举报
