老炼对荫罩式PDP的静态放电特性及MgO薄膜的影响 - 2008中国平板显示学术会议.pdf

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2026-1-12 17:41 | 查看全部 阅读模式

会议论文《老炼对荫罩式PDP的静态放电特性及MgO薄膜的影响》探讨了老炼过程对等离子体显示面板(PDP)静态放电性能的影响,重点分析了MgO薄膜在其中的作用。研究结果表明,老炼能够改善PDP的放电稳定性,同时MgO薄膜的结构和性质对放电特性有显著影响。该文为优化PDP性能提供了理论依据和技术参考。

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老炼对荫罩式PDP的静态放电特性及MgO薄膜的影响 - 2008中国平板显示学术会议
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